Düşük enerjili elektron mikroskobu

Yüksek sıcaklıkta (500°C) paladyum (Pd) atomik katmanının volfram (W) kristalinin (110) yüzünde büyürken alınan görüntüsü. Pd koyu, W ise açık kontrast ile görünüyor. Daire şeklindeki görüntünün çapı 10 mikrondur. Zorlukla seçilebilen adacıklar ise volfram karbitleridir.

Düşük enerjili elektron mikroskobu, veya LEEM (Low Energy Electron Microscope), maddelerin yüzeylerini mezoskopik boyutlarda incelemeye yarayan bir elektron mikroskobu çesididir. Elastik olarak yüzeyden geri saçılan düşük enerjili (0-500 elektronvolt) elektronların görüntülenmesi üzerine kuruludur. Yüzeylerin yapısal ve kimyasal özelliklerinin 10 nanometreye varan bir çözünürlükte incelenmesini sağlar. İnce filimler, katalitik yüzeyler, nanoteknolojik sistemler ile ilgili çalışmalardaki öneminin ötesinde, bu mikroskoptaki yüksek sinyal seviyeleri yüzeydeki dinamik değişimleri video hızında canlı olarak takip etmeye olanak tanır.

Düşük enerjili elektron mikroskobu fikir bazında 1962 yılında Ernst Bauer tarafından ortaya atılmıştır. Ernst Bauer diğer araştırmacıların da katkılarıyla icadını 1985'de pratiğe dökmüştür.

Düşük enerjili elektron mikroskobunun avantajlarından bir diğeri elektron optik sisteminin odak düzleminde oluşan düşük enerjili elektron kırınımı (LEED) motifinin kolaylıkla ölçülebilmesidir.

Kaynaklar

Bauer, Ernst (1994). "Low energy electron microscopy". Reports on Progress in Physics 57: 895-938.
Bauer, Ernst (1998). "LEEM basics". Surface Review and Letters 5: 1275–1286. http://phy.asu.edu/homepages/bauer/LEEM%20basics.pdf.

Dış bağlantılar

LEEM Kullanıcılar Topluluğu (LEEM User Community) (İngilizce)

This article is issued from Vikipedi - version of the 4/25/2015. The text is available under the Creative Commons Attribution/Share Alike but additional terms may apply for the media files.